Knihy od autora Dale E. Newbury

Zobrazené 1 – 9 z 9 výsledkov

1. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott | Springer-Verlag New York Inc., 2017

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 13 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   110.87 €

   Zľava 9 %

   Ušetríte 11.97 €

   Kúpiť
2. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Dale E. Newbury, David C. Joy | Springer Science+Business Media, 2002

   
   

   U vydavateľa na objednávku - Odosielame za 17 - 27 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   126.06 €

   Kúpiť
3. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2018

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 8 - 11 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   100.85 €

   Zľava 9 %

   Ušetríte 10.86 €

   Kúpiť
4. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   103.07 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 8.63 €

   Kúpiť
5. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman | Springer-Verlag New York Inc., 2013

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   95.68 €

   Kúpiť
6. 

   Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   103.07 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 8.63 €

   Kúpiť
7. 

   X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David B. Williams | Springer-Verlag New York Inc., 2012

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   205.96 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 17.13 €

   Kúpiť
8. 

   X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments

   Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David B. Williams | Springer Science+Business Media, 1995

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 13 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   205.96 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 17.13 €

   Kúpiť
9. 

   Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy

   Charles E. Lyman, Dale E. Newbury, Joseph Goldstein, David B. Williams | Springer Science+Business Media, 1990

   
   

   Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   103.07 €

   Zľava 7 %

   Ušetríte 8.63 €

   Kúpiť

Informujeme vás o každom kroku vybavovania objednávky. Zistite viac